最近几年CT发展也是相当快的,从光谱CT开始,一切扫描皆能量,CT也从单参数成像逐渐过渡为多参数多功能CT。而光子计数CT(Photon-Counting CT, PCCT)又是不得不提的。分享一篇飞利浦科学家的文章来了解一下PCCT。
“在1972年的RSNA上,EMI公司展示了第一台CT机,随后RSNA也见证了CT持续发展;
目前,在工业CT系统中最常用的是闪烁体探测器,X射线将能量沉积在闪烁体中的并转变为可见光后,由光电转换变为电信号,再经模拟/数字转换器转为数字信号,输入计算机处理。基于半导体的光子计数探测器,如碲化镉(CdTe)或碲化镉锌(CZT)直接将X射线转换成电信号。吸收的X射线产生电子-空穴对,在探测器顶部和底部的阴极和像素化阳极电极之间的强电场(电压~106 V/m)中分离。移动电子产生短电压脉冲,脉冲高度与X射线能量E近似成正比,一旦超过给定的能量阈值,就单独计算,因此实现对X射线能量的单光子检测(图1)[1]。闪烁体探测器对X射线的检测是两步转换,光子计数探测器对X射线的检测是一步转换。
图1.闪烁体探测器和光子计数探测器的X线检测
图2.光子计数探测器单光子检测并进行能量区分示意图
在空间分辨率方面,PCCT较现有CT有大幅提升。CT可实现的空间分辨率主要取决于其探测器元件尺寸,当前系统接近1X1mm2。由于X射线束发散,成像的isocenter处可实现的近似分辨率是通过将探测器元件的尺寸除以几何放大系数(通常为1.5–2)获得的,从而获得接近0.5X0.5mm2的重建图像分辨率。EID的探测器元件尺寸在过去20年中没有发生显著变化。这是因为EID的探测器元件必须通过薄的、高反射率的隔膜彼此分开,以避免闪烁体中产生的二次光子之间的串扰。较小的探测器元件面积使得探测器越来越难以制造。此外,由光学隔离隔片覆盖的检测器面积的总体增加导致辐射剂量效率降低。而PCD没有单独的闪烁体元件和隔片,因此可以使用更小的探测器元件来制造(图3)。
图3. EID和PCD探测器的结构示意图。
A,EID探测器侧面观;
B,EID探测器的顶面观;
C,PCD探测器侧面观;
D,PCD探测器的顶面观;
总之,由于探测器技术的巨大革新,使光子计数CT的X线利用效率更高,图像的空间分辨率、密度分辨率更高,也有更好的物质分离能力。在现阶段,光子计数技术技术层面也依然存在信号堆叠(pile up)和电荷共享(charge sharing)等问题的影响,应用层面也存在其重建速度较慢、数据存储负荷较大等问题,其对疾病诊疗的价值有待于进一步观察。
- Willemink MJ, Persson M, Pourmorteza A, Pelc NJ, Fleischmann D. Photon-counting CT: Technical Principles and Clinical Prospects. Radiology. 2018;289(2):293-312.
- Esquivel A, Ferrero A, Mileto A, Baffour F, Horst K, Rajiah PS, et al. Photon-Counting Detector CT: Key Points Radiologists Should Know. Korean J Radiol. 2022;23(9):854-65.